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X-荧光光谱仪（XRF）是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X（即X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X所采用的两个物理量。

波长色散型X荧光光谱仪（WD-XRF），是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X信号。如果分光晶体和控测器作同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X的波长及各个波长X的强度，可以据此进行定性和定量分析。该仪器产生于50年代，由于可以对复杂体系进行多组分同时测定，受到观注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。

随着科学技术的进步，在60年代初发明了半导体探测器以后，对X-荧光进行能谱分析成了可能。能谱色散型X荧光光谱仪（ED-XRF），用X管产生原级X照射到样品上，所产生的特征X（荧光）直接进入半导体探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析。

由于普通能量色散X荧光采用低功率X管，又采用滤光片扣除背景和干扰，其背景偏高，分辨率偏小，使得应用范围受到限制，特别是在轻元素的分析受到限制。随之X偏振器的诞生，产生了一款新型的能量色散X荧光光谱仪，既偏振式能量色散X荧光光谱仪ED（P）-XRF，再加上SDD探测器的使用，不仅提高了（相对使用正比计数管和Si（PIN）探测器的仪器）的分辨率，免去Si(Li)探测器使用液氮冷却的繁琐和危险，填补了原来普通能量色散X荧光的轻元素检出限高，分辨率差的缺陷，又使得（相对波长色散X荧光用户）购买和使用X荧光仪器的成本大大减低，这使得偏振式能量色散X荧光光谱仪ED（P）-XRF在分析领域的迅猛发展，越来越受到广泛关注。www.olympus-ims.com.cn